Aus Sicht der Prüfung von Produktionsprozessen wird die IC-Prüfung beispielsweise im Allgemeinen in Chip-Tests, Endprodukttests und Inspektionstests unterteilt. Sofern nicht anders erforderlich, werden beim Chip-Test im Allgemeinen nur DC-Tests durchgeführt, und beim Testen des fertigen Produkts können entweder AC-Tests oder DC-Tests durchgeführt werden. In weiteren Fällen sind beide Tests verfügbar. Im Folgenden geht es um Leiterplatten für industrielle Steuergeräte. Ich hoffe, Ihnen dabei zu helfen, die Leiterplatten für industrielle Steuergeräte besser zu verstehen.
Das Aperturverhältnis von PCB wird auch als Verhältnis von Dicke zu Durchmesser bezeichnet, das sich auf die Dicke der Platine / Apertur bezieht. Wenn das Öffnungsverhältnis den Standard überschreitet, kann das Werk es nicht verarbeiten. Die Grenze des Öffnungsverhältnisses kann nicht verallgemeinert werden. Beispielsweise unterscheiden sich Durchgangslöcher, Laser-Blindlöcher, vergrabene Löcher, Lötmaskenstopfenlöcher, Harzstopfenlöcher usw.. Das Öffnungsverhältnis des Durchkontaktierungslochs beträgt 12: 1, was ein guter Wert ist. Das Branchenlimit liegt derzeit bei 30: 1. Das Folgende bezieht sich auf 8MM Thick High TG-Leiterplatten. Ich hoffe, Ihnen dabei zu helfen, 8MM Thick High TG-Leiterplatten besser zu verstehen.
Hochfrequenzsubstrate, Satellitensysteme, Mobiltelefonempfangsbasisstationen und andere Kommunikationsprodukte müssen Hochfrequenzplatinen verwenden, die sich in den nächsten Jahren zwangsläufig schnell entwickeln werden, und Hochfrequenzsubstrate werden stark nachgefragt. Im Folgenden wird die gemischte HDI-Platine von RO4003C beschrieben. Ich hoffe, Ihnen dabei zu helfen, die gemischte HDI-Platine von RO4003C besser zu verstehen.
